全部產品介紹

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    HARP™ PMMA 系列 和共聚物電子束抗蝕劑

    安全溶劑 KemLab HARP™ PMMA 產品使用安全溶劑製造(苯甲醇和乙酸乙酯)
    體積和定制 抗蝕劑尺寸可用:100ml、500ml、1L、4L 默認尺寸可用:4L 根據要求提供自定義稀釋
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    HARE SQ系列 永久性Epoxy負型光阻產品-圖一.png

    HARE SQ系列 永久性Epoxy負型光阻

    膜厚: 2 – 100um
    應用: MEMS、micro arrays、VSCEL、waveguides、antennas、sensors、microfluidics、PDMS molding、pixel walls、fluidic channels、inkjet nozzles、spacers
    可取代: SU-8
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    APOL-LO 3200系列-金屬剝離負型光阻-圖一_APOL-LO 3207.png

    APOL-LO 3200系列 金屬剝離負型光阻

    膜厚:2 –10um
    應用:化合物半導體、LED
    可取代: AZ® nLOF™ 2020, AZ® nLOF™ 2035, AZ® nLOF™ 2070
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    KL NPR系列 具垂直側壁特性負型光阻

    膜厚: 最高可達20um
    應用: TSV、電鍍、金屬沉積、RIE蝕刻
    可取代:AZ 15nXT Series,AZ 15nXT 450cP
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    KL 5300系列 薄膜通用正型光阻

    膜厚: 0.2 – 2.0um
    應用:IC製造
    可取代: S1805™、 S1808™、 S1811™、S1813™、S1818™,AZ® 1500 Series
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    KL-6000系列產品-通用厚膜正型光阻.png

    KL 6000系列 厚膜通用正型光阻

    膜厚:2.5 – 12um
    應用:先進封裝、TSV、凸塊(Bumping)、電鍍
    可取代: S1818™、S1821™、S1827™、SPR™ 220-4.5、SPR™ 220-7.0
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    KL 7000 系列 不含PFAS的正型光阻

    膜厚:0.5 – 2.0 μm
    應用:IC製造
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    K-PRO™系列 進階厚膜正型光阻

    膜厚:5 – 25+um
    應用:先進封裝、電鍍、TSV、凸塊 (Bumping)
    可取代: AZ®P4620、AZ®P4000 系列、AZ®9200 系列、AZ®10XT 系列、SPR™ 220-7.0
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    KL IR系列 影像反轉光阻

    膜厚:1-2um
    應用:各種用途
    可取代: AZ® 5214 E
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    Surpass 3000 _ 4000.png

    SurPass 3000 / SurPass 4000

    卓越的微/納米光刻膠附著力,適用於高級光刻
    SurPass 微光刻附著力促進劑可在各種基材上提供出色的光刻膠附著力。通過對基材表面能進行陽離子改性,無需沉積薄膜或改變基材化學性質,即可提高附著力,並且很容易通過旋塗、浸泡或噴塗應用來實現。SurPass 是水性且無害的。
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    F20系列 世界上最暢銷的台式薄膜厚度測量系統

    只需按下一個按鈕,您在不到一秒鐘的同時測量厚度和折射率。 設置同樣簡單, 只需插上設備到您運行Windows™系統計算機的USB埠, 並連接樣品平臺 , F20已在世界各地有成千上萬的應用被使用. 事實上,我們每天從我們的客戶學習更多的應用.

    選擇您的F20主要取決於您需要測量的薄膜的厚度(確定所需的波長範圍)
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    F40系列 將您的顯微鏡變成薄膜測量工具

    F40 產品系列用於測量小到 1 微米的光斑。 對大多數顯微鏡而言,F40 能簡單地固定在 c 型轉接器上,這樣的轉接器是顯微鏡行業標準配件。

    F40 配備的集成彩色攝像機,能夠對測量點進行準確監控。 在 1 秒鐘之內就能測定厚度和折射率。 像我們所有的台式儀器一樣,F40 需要連接到您裝有 Windows 計算機的 USB 埠上並在數分鐘內完成設定。